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  • 掃描式測頭
Scanning Probes
掃描式測頭
掃描測頭每秒能夠采集幾百個表面點,可以測量輪廓、尺寸和位置。 掃描測頭也可用于采集離散點。
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SP25M
SP25M
SP25M是世界上最小型的多用途掃描測頭系統(tǒng)。

SP25M由兩個傳感器組成,包含在一個外殼中。用戶可從五個掃描模塊(可安裝長度從20 mm至400 mm的M3測針)中任意選擇一個,與轉接模塊(與雷尼紹的TP20系列測頭模塊兼容)進行切換。這一功能可實現(xiàn)在單個測頭系統(tǒng)中進行掃描和觸發(fā)測量。

SP25M小巧的尺寸和自動吸附安裝功能使之與PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M測座兼容。它還可安裝在自動吸附的多芯加長桿上。同時,這些組合具有極佳的測觸能力,便于檢測各種零件特征。
SP80
SP80
SP80軸套式安裝掃描測頭采用數(shù)字刻度和讀數(shù)頭技術,加上創(chuàng)新的分離光學測量原理,即使配用長測針也能夠提供卓越的掃描性能。

通過搭配長達1000 mm,重500 g的M5測針測針(包括不受平衡影響的星形配置),SP80可以測觸工件較深部位。

系統(tǒng)主要優(yōu)點:
- 使用能提供0.02 μm分辨率的數(shù)字讀數(shù)頭,實現(xiàn)超高精度掃描
- 可配用長達1000 mm,重500 g(不平衡)的大直徑/偏重測針
- 由于測頭內的低懸浮質量,可實現(xiàn)快速動態(tài)響應
- 可重復測針交換,方便快速、靈活檢測工件