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如何選擇觸發(fā)測頭和掃描測頭

發(fā)布時間:2021-03-02 類別 : 測量機(jī) - 測頭測針及配件

觸發(fā)測頭的優(yōu)勢及劣勢

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優(yōu)    勢:

1:更適于規(guī)則幾形形狀態(tài)的物體或特征及已知表面的測量;

2:有多種不同類型的觸發(fā)測頭及附件供采用,應(yīng)用場景更寬;

3:采購成本及后期使用成本低;

4:更適用于尺寸測量及在線應(yīng)用;

5:對比掃描測頭故障率更低;

6:體積小,易于在窄小空間應(yīng)用;

7:由于測點(diǎn)時測量機(jī)處于低速勻速直線運(yùn)行狀態(tài),測量機(jī)的動態(tài)性能對測量精度影響較?。?/p>

劣    勢:

1: 測量取點(diǎn)率低 ,所以不適合于輪廓、曲線、曲面等測量。

說明

點(diǎn)擊查看常用觸發(fā)測頭

掃描測頭的優(yōu)勢及劣勢

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